高精密測量系統儀器配套服務商
0512-5523-281813913288702
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?通過將影像與WLI光學測頭的結合使用，可以實現更出人意料的高效率和精準性。
?配備了白光干涉儀的高精度雙測頭影像測量系統。
?一臺測量機可執行尺寸測量、高度/表面紋理評估等多任務測量。
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規格
| 型號 | Hyper QV WLI 302 |
Hyper QV WLI 404 |
Hyper QV WLI 606 |
|
| 類型 | 標準 |
標準 |
標準 |
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| 測量范圍（XxYxZ） | 影響測量區域 |
300×200×190mm |
400×400×240mm | 600×650×220mm |
| WLI測量區域 |
300×200×190mm |
315×400×240mm | 515×650×220mmm | |
| WLI測量區域 | ||||
| 視野 (H×V) | 5X鏡頭: 約0.64 × 0.48mm / 10X鏡頭: 約0.32×0.24mm / 25X鏡頭: 約0.13×0.10mm | |||
| 重復精度 | 2σ ≤ 0.08μm | |||
| 影像光學測頭裝置 | ||||
| 倍率裝置 | 可編程電動轉臺1X -2X -6X | |||
| 影像裝置 | 黑白 CCD (1/2型) | |||
| 測量精度 | E1x,E1y | (0.8+2L/1000)μm | ||
| E1z | (1.5+2L/1000)μm | |||
| E2 | (1.4+3L/1000)μm | |||
咨詢熱線
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